如何使用金相顯微鏡觀察導電粒子

日期：2025-12-01 20:50

瀏覽次數：2209

摘要：

如何使用金相顯微鏡觀察導電粒子
使用金相顯微鏡OMT-4R系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。
　　
　　首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到好的效果。
　　

　　準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過載物臺移動后找到觀察位置?，F在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線黑時停止調節檢偏器。后插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子清晰時就可以停止了。

本文資料來源蘇州歐米特：http://www.techtheme.com.cn/

下一篇：明暗視場用平場半復消色差透鏡 MPLFLN-BD
上一篇：如何使用金相顯微鏡OMT-4R觀察導電粒子

蘇公網安備 32059002001842號